Adaptation marginale des onlays réalisés par CFAO - Clinic n° 12 du 01/12/2018
 

Clinic n° 12 du 01/12/2018

 

L’ESSENTIEL

PRESSE INTERNATIONALE

La technique d’empreinte, le système de CFAO utilisé, la forme de préparation réalisée et l’agent de scellement/collage peuvent affecter l’adaptation marginale des onlays conçus et fabriqués avec l’assistance d’un ordinateur. La préparation de la dent peut être une préparation conventionnelle (PC) ou une préparation modifiée (PM). La différence entre les deux est la présence d’un épaulement cervical sur la PC. Selon Kramer et al., des restaurations...


La technique d’empreinte, le système de CFAO utilisé, la forme de préparation réalisée et l’agent de scellement/collage peuvent affecter l’adaptation marginale des onlays conçus et fabriqués avec l’assistance d’un ordinateur. La préparation de la dent peut être une préparation conventionnelle (PC) ou une préparation modifiée (PM). La différence entre les deux est la présence d’un épaulement cervical sur la PC. Selon Kramer et al., des restaurations présentant un hiatus du joint marginal inférieur à 100 µm sont considérées comme cliniquement acceptables. L’objet de cette étude est d’évaluer l’influence de 2 formes de préparation et de 2 techniques d’empreintes numériques, directe et indirecte, sur l’adaptation marginale des onlays fabriqués par CFAO.

Matériel et méthode

Deux formes de cavités mésio-occluso-vestibulaires pour onlays sont réalisées sur des molaires mandibulaires en plastique. Les préparations comportent d’abord une cavité occlusale, une boîte mésiale et une réduction de 2 mm de hauteur de la cuspide mésio-vestibulaire, puis un épaulement profond de 1,2 mm est ajouté à la première préparation dite conventionnelle. La seconde préparation, dite modifiée, n’en comporte pas. Des modèles virtuels sont tirés de ces préparations à l’aide d’un scanner numérique, de manière directe par balayage des dents en plastique ou de manière indirecte en balayant les modèles en plâtre tirés d’une empreinte conventionnelle. Les onlays sont fabriqués par un système CFAO à partir de blocs en résine nano-céramique. Les hiatus marginaux sont évalués avec un stéréomicroscope à différents niveaux des limites marginales.

Résultats et discussion

Le hiatus du joint marginal des onlays varie en fonction de la forme de préparation, de la technique d’empreinte et de la localisation de la mesure effectuée sur la limite marginale. La préparation conventionnelle (PC) (avec épaulement) présente un hiatus marginal moyen significativement réduit (59 ± 50 µm) par rapport à la préparation modifiée (PM) (69 ± 58 µm). Le hiatus marginal moyen est significativement plus grand dans les segments mésial et vestibulaire de la limite cervicale de la PM par rapport à la PC. En ce qui concerne les techniques d’empreinte, le joint vestibulaire présente le hiatus moyen le plus petit dans les restaurations fabriquées à partir d’empreintes indirectes par rapport à des empreintes directes (42 ± 33 µm versus 60 ± 39 µm).

L’essentiel

Les résultats de cette étude in vitro indiquent que la conception d’un onlay comportant un épaulement modifié conduit à une restauration avec une adaptation marginale améliorée par rapport à une conception avec la seule réduction d’une cuspide. Les deux techniques d’empreintes numériques, directe et indirecte, peuvent être utilisées avec succès pour la fabrication d’onlays par un procédé CFAO (conception et fabrication assistées par ordinateur). Elles procurent en effet des hiatus marginaux acceptables, inférieurs à 100 µm. Cependant, la technique indirecte permet l’obtention d’une adaptation marginale supérieure au niveau de la limite vestibulaire. Dans l’étude présente, c’est probablement la présence d’un épaulement modifié sur une cuspide réduite qui aide, avec des angles arrondis, à établir une transition douce avec la boîte mésiale, conduisant à une adaptation marginale supérieure. Les résultats montrent donc qu’une préparation conventionnelle, avec un épaulement modifié et une empreinte numérique indirecte, conduit à une adaptation marginale améliorée des onlays par rapport à une préparation modifiée, sans épaulement, avec une réduction plate de la cuspide et une empreinte directe.